Jaký mikroskop se používá pro výzkum grafenu
Samozřejmě jde o mikroskop atomárních sil (AFM). Při pohledu na výškovou mapu je jedna vrstva grafenu menší než 1 nm. Je třeba říci, že AFM je nejvhodnějším prostředkem k charakterizaci grafenových materiálů. Při charakterizaci AFM je samozřejmě třeba dbát na rozlišení molekul prachu, solí a grafenu.
K charakterizaci grafenu lze samozřejmě použít i optickou mikroskopii a rastrovací elektronovou mikroskopii (SEM). Existuje také transmisní elektronový mikroskop HRTEM s vysokým rozlišením, který dokáže vidět voštinový atomový obraz grafenu a po redukci vidí defekty oxidu grafenu.
V dnešní době je kvalita knih sestavených mnoha vědci stále horší a horší, ale "Graphene-Structure, Preparation Method and Performance Characterization" editované vědci z Tsinghua University je stále rozumné. V knize jsou některé chyby, které nemají vliv na odkaz. Ve srovnání s některými knihami Je mnohem lepší sestavit velké množství dokumentů bez logických pravidel, abyste ukázali, kolik dokumentů jste přečetli.
