Aplikace infračervených mikroskopů v mikrozařízeních v elektronickém průmyslu
S rozvojem nanotechnologie se v oblasti polovodičové technologie stále více uplatňuje její miniaturizační přístup shora-. Dříve jsme technologii IC říkali „mikroelektronika“, protože velikost tranzistorů je v rozsahu mikrometrů (10-6 metrů). Polovodičová technologie se ale vyvíjí velmi rychle, každé dva roky postoupí o jednu generaci a velikost se zmenší na polovinu původní velikosti, což je slavný Moorův zákon. Zhruba před 15 lety začaly polovodiče vstupovat do submikronové éry, která je menší než mikrometry, po níž následovala hlubší submikronová éra, mnohem menší než mikrometry. Do roku 2001 se velikost tranzistorů dokonce zmenšila na méně než 0,1 mikrometru, což je méně než 100 nanometrů. Proto v éře nanoelektroniky bude většina budoucích integrovaných obvodů vyráběna pomocí nanotechnologií.
Technické požadavky:
V současné době je hlavní formou selhání elektronického zařízení tepelné selhání. Podle statistik je 55 % poruch elektronických zařízení způsobeno teplotou překračující stanovenou hodnotu a poruchovost elektronických zařízení roste exponenciálně s rostoucí teplotou. Obecně řečeno, provozní spolehlivost elektronických součástek je vysoce citlivá na teplotu, s 5% snížením spolehlivosti na každý 1 stupeň zvýšení teploty zařízení mezi 70-80 stupni Celsia. Proto je nutné rychle a spolehlivě zjistit teplotu zařízení. Vzhledem ke stále menší velikosti polovodičových součástek byly kladeny vyšší požadavky na teplotní rozlišení a prostorové rozlišení detekčního zařízení.
