Řešení problémů EMI v časové a frekvenční oblasti pomocí digitálních osciloskopů RTO
Klíčem k diagnostice EMI je technika FFT. S funkcí FFT tradičních osciloskopů je obtížné nastavit parametry ve frekvenční oblasti a analýza spektra trvá dlouho. Vzhledem k tomu, že rozhraní FFT osciloskopů R&S RTO je založeno na spektrálním analyzátoru, uživatelé mohou přímo nastavovat parametry, včetně počáteční frekvence, mezní frekvence, rozlišení šířky pásma a typu detektoru, stejně jako při použití spektrálního analyzátoru.
Výkonná technologie FFT v kombinaci s velkou hloubkou paměti RTO osciloskopů umožňuje uživateli nezávisle nastavovat parametry časové a frekvenční oblasti a flexibilně provádět analýzy v časové i frekvenční oblasti. Tyto funkce umožňují uživateli co nejrychleji najít zdroje vyzařovaného rušení.
Osciloskopy R&S RTO používají FFT překrytí pro analýzu ve frekvenční oblasti. Technika Overlap FFT umožňuje vysokou citlivost na rušivé záření a je schopna zachytit příležitostné rušivé frekvenční body. Osciloskop nejprve rozdělí zachycený signál v časové oblasti do několika časových segmentů a poté provede výpočty FFT pro získání spektra pro každý časový segment, který zachytí epizodické rušivé signály s nízkou energií ve spektru.
Poté jsou signály s různými frekvencemi výskytu označeny různými barvami a FFT analyzovaná spektra všech časových segmentů jsou kombinována do úplného spektra.
Záření se odlišuje od epizodického záření tím, že je označeno různými barvami. Spektrální analýza pomocí techniky barevného kódování poskytuje dokonalý obraz o typu a frekvenci emisí EMI.
Technika FFT v okně umožňuje uživateli přizpůsobit časové okno zachyceného signálu, provádět analýzu FFT pouze na signálech v časovém okně a posunutím okna analyzovat shodu mezi každým segmentem signálu v časové doméně a spektrum. Techniku lze například použít k analýze problému EMI v důsledku překmitu tranzistoru ve spínaném napájecím zdroji. Po identifikaci problémového bodu může uživatel rychle ověřit účinek nápravy.
Nástroj šablony je také velmi účinný při analýze problémů s falešným zářením. Uživatelé definují šablony ve frekvenční doméně a podle toho je nastaví pro problematické signály, aby mohli přesně určit, které signály způsobují spektrální narušení. I pro zachycené signály může uživatel upravit parametry FFT, jako je velikost okna a frekvenční rozlišení. Tyto výkonné funkce umožňují uživatelům pečlivě analyzovat emise EMI, které je obtížné zachytit.
Osciloskopy R&S RTO nastavují nový standard pro osciloskopy s bohatými funkcemi pro snímání a analýzu. Zároveň s bohatým příslušenstvím, jako je sonda R&S HZ-15 pro blízké pole, poskytuje kompletní řešení diagnostiky EMI.
