Opatření pro měření multimetrem při detekci nových energetických vozidel
(1) Multimetr pro testování nových energetických vozidel by měl mít dostatečně velký vnitřní odpor, alespoň 10krát větší než odpor testovaného obvodu, aby se zabránilo významným chybám měření.
(2) Sonda nebo sonda by měla být vybavena protiskluzovými opatřeními. Jakýkoli momentální zkrat může integrovaný obvod snadno poškodit. K zabránění klouzání sondy lze použít následující metody: vezměte část jízdního kola a vložte jádro ventilu na špičku sondy a prodlužte špičku sondy asi o 0,5 milimetru. To může nejen zajistit dobrý kontakt mezi špičkou sondy a testovaným bodem, ale také účinně zabránit sklouznutí, a i když se dotkne sousedních bodů, nedojde ke zkratu-.
(3) Když napětí určitého pinu neodpovídá normální hodnotě, je nutné analyzovat, zda napětí tohoto pinu má významný vliv na normální činnost integrovaného obvodu a odpovídající změny napětí ostatních pinů, aby bylo možné určit kvalitu integrovaného obvodu.
(4) Napětí pinů integrovaného obvodu je ovlivněno periferními součástmi. Při netěsnosti, zkratu, přerušeném obvodu nebo změně hodnoty v periferních součástech, nebo když je k perifernímu obvodu připojen potenciometr s proměnným odporem, způsobí poloha posuvného ramene potenciometru změny napětí na kolíku.
(5) Pokud je napětí každého pinu integrovaného obvodu normální, má se obecně za to, že integrovaný obvod je normální; Pokud je napětí některých pinů v integrovaném obvodu abnormální, měla by být zkontrolována maximální odchylka od normální hodnoty, zda v periferních součástech nejsou nějaké závady. Pokud se nevyskytují žádné závady, je pravděpodobné, že dojde k poškození integrovaného obvodu.
(6) U dynamických přijímacích zařízení, jako jsou televizory, se napětí na každém kolíku integrovaného obvodu mění se signálem a bez něj. Pokud se zjistí, že by se napětí pinů nemělo měnit, ale naopak výrazně měnit, a nemění se napětí, které by se mělo měnit s velikostí signálu a polohou nastavitelných součástek, lze určit, že je integrovaný obvod poškozen.
(7) U zařízení s více pracovními režimy se v různých pracovních režimech liší také napětí každého pinu integrovaného obvodu.
