Přehled skenování optické mikroskopie v blízkém poli
Skenování poblíž optické mikroskopie (SNOM) je technika optické skenovací mikroskopie (SPM) vyvinutá na základě principu detekce blízkého pole. Jeho rozlišení překročilo optický difrakční limit a dosáhl 10-200. m. Pokud jde o technologické aplikace, SNOM poskytuje výkonný nástroj pro detekci jedné molekuly, výzkum biologických struktur, nano mikrostruktur, analýzu exocytózy polovodičů a studie substruktury; Ve fyzice kombinuje několik disciplín, jako je kvantová optika, optika vlnovodu a dielektrická fyzika, a tak otevírá novou oblast optického výzkumu - téměř polní optiku (Optics). 1. Historie rozvoje a současný stav výzkumu Snomu doma i v zahraničí. Podle principu ABBEL je rozlišení tradičních optických mikroskopů omezeno optickým difrakčním limitem, tj. Ne === ve stejné rovnici, vlnová délka umělého osvětlovacího světla, I a O jsou indexem refrakčního indexu a polovičnímu úhlovému otvoru prostoru objektu.
Od 80. let 20. století se v oblasti optiky objevila nová disciplína s rozvojem vědy a technologie směrem k malým a nízkým rozměrovým prostorům, jakož i vývojem mikroskopické technologie skenovací sondy. Optika poblíž pole označuje optický jev, kde je vzdálenost mezi fotodetektorem a vzorkem menší než vlnová délka záření; Optický mikroskop blízkého pole je nový typ optického přístroje s ultra vysokým prostorovým rozlišením založeným na teorii optiky blízkého pole. V roce 1984 vynález prototypu optického mikroskopu blízkého pole, „optického stetoskopu“, označil první průlom v rozlišení difrakčního limitu optických mikroskopů lidmi. Od roku 1992, kdy byla k výrobě optických sond použity optická vlákna s jedním režimem a byly použity smykové síly k měření vzdálenosti od špičky sondy k povrchu vzorku, byly jako nový typ optického nástroje pro pozorování a studium vzhledu a vnitřních vlastností objektu podvádění. V následujících několika letech to bylo široce aplikováno v polích, jako je fyzika, chemie, biologie, medicína a informace v nanočásticích a mezoskopických měřítcích.
