Metalurgické mikroskopy používané v různých průmyslových odvětvích
První odvozený z metalografie, jeho hlavním účelem je pozorovat metalografickou organizaci profesionálních přístrojů, konkrétně se používá k pozorování metalografické organizace neprůhledných předmětů, jako jsou mikroskopy kovů a minerálů. Tyto neprůhledné předměty nelze pozorovat v běžném mikroskopu s procházejícím světlem, takže hlavní rozdíl mezi metalografickými a běžnými mikroskopy spočívá v tom, že první se liší od odraženého světla, zatímco u druhého se jedná o osvětlení procházejícím světlem.
Metalografický mikroskop má vlastnosti dobré stability, čistého zobrazení, vysokého rozlišení, velkého a plochého zorného pole. Může nejen provádět mikroskopické pozorování na okuláru, ale také sledovat dynamické obrazy v reálném čase na obrazovce počítače (digitální fotoaparát) a upravovat, ukládat a tisknout požadované obrázky, které se používají hlavně v oblasti hardwaru, krájení, IC komponenty, LCD/LED a tak dále.
Protože existuje pět druhů čoček pro metalurgický mikroskop: EPI fluorescence ve světlém poli; BD světlé pole a tmavé pole; SLWD super dlouhá pracovní vzdálenost; ELWD zvýšená pracovní vzdálenost; s korekčním kroužkem. V hardwarovém průmyslu existuje nějaký hardware, odraz je vážnější, pro pozorování si můžete vybrat objektiv BD se světlým polem a objektivem s tmavým polem. Jiný příklad, v LCD průmyslu, pozorování a měření vodivých částic, metalurgický mikroskop může být také vybaven DIC, díky kterému lze objekt vidět více trojrozměrně. Protože se jedná o polarizované světlo, dvě sady filtrů, vznik technologie pozorování mikroskopem s polarizovaným světlem, dle dvojlomných vlastností, směrová změna směru světelné dráhy, samozřejmě polarizované pouze s použitím DIC, jednotlivě má malý význam. Metalografický mikroskop se používá pro IC součástky, metalografické řezy a další měření a analýzu mikrorozměrů. Může používat inteligentní software měření Iview-DIMS, vysoká přesnost, účinně snižuje lidskou chybu při měření. Snadno se učí a používá, lze snadno dosáhnout bodu, čáry, oblouku, poloviční deformace, přímé osnovy, úhlu a dalších souvisejících rozměrů ** měření a analýzy, snadno pořizuje snímky měření a přizpůsobuje různé zkušební zprávy.
