Jak fungují on-line tloušťkoměry na nanášení povlaků
JSP Thickness Gauge for Thin Film Coatings je online tloušťkoměr, který využívá princip technologie optického nanášení k detekci tloušťky materiálů. Spektrální měření a kontrola tenkovrstvého online tloušťkoměru se běžně používá ve výrobních linkách pro dávkové testování tloušťky materiálu, v procesu měření tloušťky se bude měřit v reálném čase, aby se výsledky ukázaly technikovi nebo řídicímu systému, aby se usnadnilo technik nebo řídicí systém dokáže včas reagovat na abnormální data, je důležitou součástí automatizované výroby. V dnešní době, díky rychlému rozvoji vědy a technologie, se online tloušťkoměr na nanášení povlaků stal nepostradatelným nástrojem pro dávkové testování tloušťky materiálu na výrobní lince.
V dnešní době, díky rychlému rozvoji vědy a techniky, se oblast strojového vidění rychleji vyvíjela a používala, v oblasti měření tloušťky filmu se také rychleji vyvíjel online tloušťkoměr filmového povlaku, nyní s neustálým vývojem věda a technika, typ tloušťkoměru a také technické vlastnosti přístroje se také hodně zlepšily, tloušťkoměr v procesu aplikace tloušťkoměru, kombinovaný s různými typy tloušťkoměru, použití mnoho různých, a nyní si vezměte wuxi jingpu Měření a ovládání tloušťkoměru filmového povlaku, jemné spektrální měření a kontrola povlaku (tloušťky filmu) online tloušťkoměr, použití nanooptické interference, současně, 20 vrstev nepoužívá povlak, film pro současné měření, přičemž přesnost je vysoká až 1nm, perfektní řešení pro tradiční ray třídu online záření tloušťkoměru, offsetový cyklus, nízká přesnost detekce, nemůže detekovat nedostatky tloušťky povlaku. Přesné měření spektra a kontrola tloušťky povlaku online detekce tloušťkoměru s vysokou přesností, zároveň může online automatická kalibrace v reálném čase, účinně zaručit přesnost detekce online tloušťkoměru.
Princip on-line detekce tloušťkoměru filmového povlaku:
Když je konkrétní vlnová délka světla procházející různými materiály (různá tloušťka, hustota, složení), po povrchu a po vnitřním odrazu mnohokrát po vytvoření spektrálních proužků zcela odlišná, systém pomocí analýzy přijatých spektrálních interferenčních proužků charakteristiky odraženého světla a systémová knihovna spektrálních křivek pro porovnání a porovnání, simulace a přizpůsobení charakteristických křivek a poté každé jiné složení tloušťky povlaku On-line měření.
(1) Dopadající světlo se několikrát odráží na horním a spodním povrchu fólie.
(2) Intenzita odraženého světla souvisí s indexem lomu filmu, indexem lomu substrátu, tloušťkou filmu a vlnovou délkou.
(3) V případě známého indexu lomu se tloušťka filmu vypočítá jako funkce naměřené intenzity odraženého světla a vlnové délky.
