Hluboké ohnisko pro imerzní mikroskopy a mikroskopy STED
Hluboké zaostření objektivů s vysokou NA vytváří menší PSF (funkce rozprostření bodu), která je kritická pro mikroskopické systémy s vysokým rozlišením. V mnoha jiných mikroskopických systémech, jako jsou imerzní mikroskopy, se k oddělení imerzní kapaliny od vzorku používá krycí sklíčko. To může deformovat PSF v ohniskové rovině. Prokázali jsme, že asymetrické PSF se dále prodlužuje za krycím sklíčkem. Kromě toho mikroskopie STED (Stimulated Emission Depletion), která je široce používána s rozlišením desítek nanometrů, spotřebovává toroidní PSF. Podle přístupu navrženého P. Törökem a PRT Monrem modelujeme hluboké zaostření Gauss-Ragglerova paprsku. Ukazuje, jak generovat kruhové PSF.
Hluboké zaostřování s imerzní mikroskopií s vysokou NA
Ve VirtualLab Fusion lze přímo analyzovat vliv rozhraní krycího sklíčka na PSF. Ohniskové zkreslení za krycím sklíčkem je demonstrováno a analyzováno plně vektorovým způsobem.
Zaostření Gaussova-Laguerrova svazku v mikroskopu STED
Bylo prokázáno, že zaostření Gaussova-Laguerrova svazku vysokého řádu vytváří prstencový PSF. Velikost prstencového PSF závisí kromě jiných proměnných na konkrétním pořadí paprsku.
