Běžné způsoby testování elektronických součástek pomocí multimetru
Běžné metody pro testování elektronických součástek multimetrem, tipy pro testování elektronických součástek multimetrem, použití multimetru pro testování odporu, testování kapacity, testování diod, testování indukčnosti a testování tranzistorů atd.
1. Zkouška odolnosti
Čipové rezistory jsou obecně vytištěny s identifikačními znaky odporu, jako je 103 (hodnota odporu je 10K), 102 (hodnota odporu je 1K). Pomocí multimetru otestujte rozsah odporu a porovnejte jej s vyznačenou hodnotou, abyste zjistili, zda je normální.
2. Zkouška kapacity
Mnoho digitálních multimetrů má nastavení kapacitního testu. Nejprve zkratujte kondenzátor, aby se vybil, upravte jej na nastavení testu kapacity a poté připojte měřený kondenzátor ke dvěma vyhrazeným testovacím portům pro kondenzátor. Poté lze odečíst kapacitu. Pokud pouze zhruba určíte kapacitu Pokud je dobrá nebo špatná, použijte k testování úroveň odporu nebo úroveň bzučáku. Kondenzátor by neměl být schopen detekovat hodnotu odporu (nekonečno) nebo by se měl odpor změnit z malého na velký a pak na nekonečno, pak je to normální.
3. Test diod
Podle jednosměrné vodivosti diody použijte nastavení bzučáku a nejprve náhodně připojte červené a černé pero. Pokud existuje spojitost (s číselným displejem), je červené pero připojeno ke kladnému pólu diody a černé k zápornému pólu. Poměry červené a černé jsou obrácené. Neměla by být zobrazena žádná hodnota (stejně jako obsah zobrazení ve výchozím netestovaném stavu), takže ji lze po dvojnásobném testování považovat za normální, jinak je abnormální.
4. Zkouška indukčnosti
Některé multimetry mají režim testování indukčnosti, který může indukčnost testovat. Metoda je podobná jako u testování kapacity. Pokud není k dispozici žádná funkce testu indukčnosti, můžete pouze použít režim bzučáku nebo režim odporu k otestování, zda je induktor přerušený obvod (multimetr vydá zvuk, pokud použijete režim bzučáku k otestování normální indukčnosti. ), induktor je zkratovaný, nelze to určit. Na testování je speciální měřič kapacity a indukčnosti a nejlépe se používá můstek LCR.
5. Zkouška tranzistoru
Vnitřní struktura triody se blíží struktuře diody a metoda posuzování je podobná jako u diody.
