Struktura systému mikroskopie atomárních sil (AFM).
1. Sekce detekce síly:
V systému mikroskopie atomových sil (AFM) je síla, která má být detekována, van der Waalsova síla mezi atomy. Takže v tomto systému se k detekci změn síly mezi atomy používá konzola. Tento mikrokonzola má určité specifikace, jako je délka, šířka, koeficient pružnosti a tvar hrotu jehly, a výběr těchto specifikací je založen na charakteristikách vzorku a různých provozních režimech a jsou vybrány různé typy sond.
2 Sekce detekce polohy:
V systému mikroskopie atomárních sil (AFM), když dojde k interakci mezi špičkou jehly a vzorkem, konzola se bude kývat. Proto, když je laser ozářen na konci konzoly, změní se také poloha odraženého světla v důsledku výkyvu konzoly, což má za následek vytvoření offsetu. V celém systému je laserový bodový detektor polohy použit k zaznamenání ofsetu a jeho převedení na elektrický signál pro zpracování signálu ovladačem SPM.
3 Systém zpětné vazby:
V systému mikroskopu atomární síly (AFM) se poté, co je signál zachycen laserovým detektorem, používá jako zpětnovazební signál ve zpětnovazebním systému jako vnitřní nastavovací signál a pohání skener obvykle vyrobený z piezoelektrických keramických trubic k pohybu. přiměřeně, aby se udržela vhodná síla mezi vzorkem a špičkou jehly.
Mikroskopie atomové síly (AFM) kombinuje výše uvedené tři části, aby prezentovala povrchové charakteristiky vzorku: v systému AFM se ke snímání interakce mezi špičkou jehly a vzorkem používá malá konzola. Tato síla způsobí rozhoupání konzoly a poté je laser použit k ozáření konce konzoly. Když se vytvoří výkyv, změní se poloha odraženého světla, což způsobí posun. V tomto okamžiku laserový detektor zaznamená tento offset a také poskytne zpětnovazebnímu systému signál v tomto okamžiku, aby se usnadnilo vhodné nastavení systému. Nakonec budou povrchové charakteristiky vzorku prezentovány ve formě obrázku.
