Aplikace mikroskopů ve strategickém rozvíjejícím se průmyslu LED
LED (Light-Emitting Diode) je zkratka pro světelné diody. Od druhé poloviny roku 2009 zaznamenal trh LED rychlý skok. Očekává se, že jako vysoce rostoucí rozvíjející se průmysl, rozsah čínského LED průmyslu do roku 2015 přesáhne 500 miliard juanů, včetně 160 miliard juanů za obecné osvětlení, 120 miliard juanů za podsvícení velkoplošných LCD TV, 20 miliard juanů za osvětlení automobilů a 100 miliard juanů za osvětlení krajiny a displeje.
Průmyslový řetězec LED lze zhruba rozdělit do tří částí: upstream růst substrátu a výroba epitaxních plátků, střední balení čipů a následné aplikační produkty. V celém průmyslovém řetězci leží hlavní části v růstu substrátu a výrobě epitaxních plátků, které se vyznačují relativně vysokým technologickým obsahem a představují téměř 70 % hodnoty výstupu a zisků odvětví.
Aktuální vývojové trendy LED průmyslu
Ovlivněny mezinárodními a domácími trhy a poháněnyNárodní projekt polovodičového osvětleníČínský LED průmysl zpočátku vytvořil relativně kompletní průmyslový řetězec pokrývající upstream LED substrátové materiály, výrobu LED epitaxních waferů, přípravu LED čipů, balení LED čipů a aplikaci LED produktů.
Je dobře známo, že polovodičové diody vyzařující světlo nabízejí výhody, jako je vysoká účinnost přeměny energie a dlouhá životnost, a jsou považovány za světelný zdroj nové generace, který nahradí v současnosti používané tradiční světelné zdroje. Soudě podle současného výkonu světelných diod je však k dosažení tohoto cíle stále potřeba překonat mnoho technických problémů, což vyžaduje intenzivnější výzkum v oblasti analýzy a charakterizace materiálů, technologie analýzy zařízení a dalších oblastí.
Při analýze obalových struktur LED zařízení, stejně jako struktury, složení a podmínek rozhraní čipů, se nástroje včetně optických mikroskopů, rastrovacích elektronových mikroskopů (SEM), energeticky disperzní rentgenové spektroskopie (EDS) a sekundární iontové hmotnostní spektrometrie (SIMS) staly nepostradatelnými analytickými nástroji pro poruchu a strukturální analýzu zařízení, stejně jako pro monitorování, optimalizaci a zlepšování procesů.
