Jaký je princip fungování online tloušťkoměru na nanášení tenkých vrstev
Online tloušťkoměr pro měření a kontrolu tenkých vrstev Jingpu je online přístroj na měření tloušťky, který využívá princip technologie optického povlakování k detekci tloušťky materiálů. Přesné měření spektra a kontrola online tloušťkoměru tenkého filmu se často používá k hromadnému testování tloušťky materiálů na výrobní lince. Reakce na abnormální data je důležitým článkem v automatizované výrobě. V dnešní době, díky rychlému rozvoji vědy a techniky, se tenkovrstvé online tloušťkoměry staly nepostradatelným nástrojem pro dávkovou detekci tloušťky materiálu na výrobní lince.
V dnešní době se díky rychlému rozvoji vědy a techniky rychle rozvíjí a uplatňuje oblast strojového vidění. V oblasti měření tloušťky tenkých vrstev se také rychle vyvinuly online tloušťkoměry pro tenké vrstvy. V dnešní době, s neustálým rozvojem vědy a techniky, měření tloušťky Typy a technické vlastnosti přístroje se také hodně zlepšily. V procesu aplikace tloušťkoměru v kombinaci s různými typy tloušťkoměrů je použití také velmi odlišné. Nyní si vezměte měřič tloušťky tenkého filmu od Wuxi Precision Measurement and Control Například online tloušťkoměr pro přesné měření spektra a kontrolu povlaku (tloušťka filmu) využívá metodu nanooptické interference, která dokáže současně měřit 20 vrstev nepoužitých povlaků a filmy současně a přesnost je až 1nm, což dokonale řeší problém tradičního záření. Online tloušťkoměr má nevýhody záření, dlouhou dobu ofsetu, nízkou přesnost detekce a nemožnost detekovat tloušťku povlaku. Přesný online tloušťkoměr pro měření a kontrolu tloušťky povlaku má vysokou přesnost detekce a zároveň se může automaticky kalibrovat online v reálném čase, což účinně zaručuje přesnost detekce online tloušťkoměru.
Princip detekce online tloušťkoměru nanášení tenkým filmem:
Při průchodu světla konkrétní vlnové délky různými materiály (různá tloušťka, hustota, složení) jsou spektrální proužky vzniklé po mnohonásobných odrazech na povrchu a uvnitř zcela odlišné. Systém analyzuje spektrum přijímaného odraženého světla Charakteristiky interferenčních proužků jsou porovnávány a porovnávány se spektrálními křivkami v systémové knihovně a charakteristické křivky jsou simulovány a přizpůsobeny současně a poté jsou měřeny povlaky s různými tloušťkami komponent online.
(1) Dopadající světlo se několikrát odráží na horním a spodním povrchu fólie.
(2) Intenzita odraženého světla souvisí s indexem lomu filmu, indexem lomu substrátu, tloušťkou filmu a vlnovou délkou.
(3) V případě známého indexu lomu vypočítejte tloušťku filmu podle funkce naměřené intenzity odraženého světla a vlnové délky.
