Jaký je rozdíl mezi metalografickým mikroskopem a rastrovacím elektronovým mikroskopem?
Metalografický mikroskop je mikroskop používaný k pozorování povrchu kovového vzorku (metalografické struktury) s dopadajícím osvětlením. Kombinuje technologii optické mikroskopie, technologii fotoelektrické konverze a technologii počítačového zpracování obrazu. High-tech produkty mohou snadno pozorovat metalografický obraz na počítači, takže metalografický obraz lze analyzovat, třídit atd. a výstupní obraz je. Metalografický mikroskop je druh optického mikroskopu. Ve srovnání s elektronovým mikroskopem je rozlišení menší, mikronové rozlišení menší a zvětšení menší, ale ovládání je snadné. Velké zorné pole, relativně nízká cena.
Metalografický mikroskop Nový typ elektrooptického přístroje používaného v rastrovací elektronové mikroskopii. Vyznačuje se snadnou přípravou vzorků, nastavitelnou šířkou pole zvětšení, vysokým rozlišením obrazu, hloubkou ostrosti a dalšími. Rastrovací elektronová mikroskopie je po desetiletí široce používána v oblasti biologie, medicíny a metalurgie a podporuje rozvoj různých příbuzných oborů. Vlastnosti rastrovacího elektronového mikroskopu: elektronový mikroskop, vysoké rozlišení obrazu, rozlišení nanometrů, nastavitelné zvětšení a velké, další důležitou vlastností je velká hloubka ostrosti a bohaté trojrozměrné obrazy.
Mezi metalografickými mikroskopy a rastrovacími elektronovými mikroskopy jsou velké rozdíly, zejména v následujících aspektech:
1. Různé zdroje světla: metalografické mikroskopy používají jako zdroj světla viditelné světlo a rastrovací elektronové mikroskopy využívají jako zdroj světla pro zobrazování elektronové paprsky.
2. Princip je jiný: metalografický mikroskop využívá ke skenování princip geometrického optického zobrazování a rastrovací elektronový mikroskop využívá vysokoenergetické elektronové paprsky k bombardování povrchu vzorku k vybuzení různých fyzikálních signálů na povrchu. vzorek, pak použijte různé detektory signálu k odebrání fyzického signálu a jeho převedení na obraz. informace.
3. Rozlišení: Kvůli interferenci a ohybu světla může být metalografický mikroskop omezen pouze na 0.2-0.5um. Rastrovací elektronová mikroskopie využívá jako zdroj světla elektronový paprsek a jeho rozlišení může dosáhnout 1-3nm. Proto pozorování mikrostruktury metalografickým mikroskopem patří k mikronové analýze a pozorování rastrovacím elektronovým mikroskopem k analýze nanometrů.
4. Hloubka ostrosti: Hloubka ostrosti obecného metalografického mikroskopu je mezi 2-3um, proto je požadována extrémně vysoká hladkost povrchu vzorku, takže proces přípravy je poměrně komplikovaný. Hloubka ostrosti SEM může být až několik.
