Jaké jsou výhody tloušťkoměru opláštění ve srovnání s tloušťkoměrem povlaku
Měřič tloušťky povlaku je nově vyvinutý produkt, který má ve srovnání s předchozím měřičem tloušťky povlaku tyto hlavní výhody:
1. Vysoká rychlost měření: 6krát rychlejší než ostatní série TT;
2. Vysoká přesnost: Přesnost produktu může po jednoduché kalibraci dosáhnout 1-2 procent. Je to produkt, který může na trhu dosáhnout třídy A. Jeho přesnost je mnohem vyšší než u stejných domácích produktů, jako je Times. Je také vyšší než dovážené produkty, jako je EPK;
3. Stabilita: Stabilita naměřené hodnoty a stabilita použití jsou lepší než dovážené produkty;
4. Funkce, data, operace a zobrazení jsou v čínštině;
Krycí vrstva vytvořená pro ochranu a dekoraci povrchu materiálů, jako je povlak, pokovování, opláštění, lepení, chemicky tvarovaný film atd., se v příslušných národních a mezinárodních normách nazývá povlak. Měření tloušťky povlaku se stalo důležitou součástí kontroly kvality ve zpracovatelském průmyslu a povrchovém inženýrství a je nezbytným prostředkem, jak produkty splňují vysoké standardy kvality. Aby byly produkty internacionalizovány, existují jasné požadavky na tloušťku opláštění u exportních komodit mé země a zahraničních projektů.
Mezi metody měření tloušťky obkladu patří zejména: metoda klínového řezání, metoda optického řezu, metoda elektrolýzy, metoda měření rozdílu tloušťky, metoda vážení, metoda rentgenové fluorescence, metoda zpětného rozptylu paprsků, kapacitní metoda, metoda magnetického měření a zákon o měření vířivými proudy atd. Mezi těmito metodami je prvních pět destruktivní testování, metody měření jsou těžkopádné a pomalé a většina z nich je vhodná pro kontrolu vzorků.
Rentgenové a rentgenové metody jsou bezkontaktní a nedestruktivní měření, ale zařízení jsou komplikovaná a drahá a rozsah měření je malý. Vzhledem k radioaktivnímu zdroji musí uživatelé dodržovat předpisy o radiační ochraně. Rentgenovou metodou lze měřit extrémně tenký povlak, dvojitý povlak a povlak slitiny. Metoda -ray je vhodná pro měření povlaku a povlaku s atomovým číslem substrátu větším než 3. Kapacitní metoda se používá pouze při měření tloušťky izolačního povlaku tenkého vodiče.
