Jaké jsou výhody tloušťkoměru opláštění oproti tloušťkoměru povlaku?
Měřič tloušťky povlaku je nově vyvinutý nový produkt, ve srovnání s předchozím měřičem tloušťky povlaku má tyto hlavní výhody:
1. vysoká rychlost měření: rychlost měření než jiná řada TT 6krát rychlejší;
2. vysoká přesnost: produkt je jednoduchý po škole 0 přesnost může dosáhnout 1-2 % je v současné době na trhu k dosažení produktů úrovně A, jeho přesnost je mnohem vyšší než časy a další podobné domácí . Jeho přesnost je mnohem vyšší než u podobných produktů v Číně, jako byla éra, a jeho přesnost je také vyšší než u dovážených produktů, jako je EPK;
3. Stabilita: stabilita naměřené hodnoty a stabilita použití je lepší než u dovážených výrobků;
4. funkce, data, operace, zobrazení vše v čínštině;
Povrchová ochrana materiálu, dekorace tvorby krycí vrstvy, jako jsou nátěry, pokovování, obvazová vrstva, pastová vrstva, chemické vytváření filmu atd., v příslušných zemích a mezinárodních normách nazývané obklady (povlaky). Měření tloušťky obkladu se stalo důležitou součástí zpracovatelského průmyslu, testování kvality povrchového inženýrství, je produktem k dosažení nadstandardních standardů kvality nezbytnými prostředky. Aby se dosáhlo internacionalizace produktu, čínských exportních komodit a zahraničních projektů, má tloušťka pláště jasný požadavek.
Mezi metody měření tloušťky obkladu patří především: metoda klínového řezu, metoda odříznutí světla, metoda elektrolýzy, metoda měření rozdílu tloušťky, metoda vážení, metoda rentgenové fluorescence, metoda zpětného rozptylu paprsků, kapacitní metoda, magnetická metoda měření a měření vířivými proudy metoda. Prvních pět z těchto metod jsou ztrátové, těžkopádné a pomalé prostředky měření, většinou použitelné pro kontrolu odběru vzorků.
Rentgenové a rentgenové metody jsou bezkontaktní nedestruktivní měření, ale zařízení jsou složitá a drahá a rozsah měření je malý. Vzhledem k radioaktivnímu zdroji musí uživatel dodržovat normy radiační ochrany. rentgenová metoda může měřit velmi tenké pokovování, dvojité pokovování, pokovování slitinami. -ray metoda je vhodná pro pokovování a měření atomového čísla substrátu většího než 3. Kapacitní metoda se používá pouze pro měření tloušťky tenkých vodivých izolačních plášťů.
