Povídání o pracovním principu měřiče tloušťky tenké vrstvy
Návod: Technologie optického povlaku: U materiálů propouštějících světlo platí, že když je materiál jistý, propustnost a naměřená tloušťka mají vztah jedna ku jedné. Pro měření tloušťky materiálu se měří veškerá optická propustnost (optická hustota) materiálu. Účel této technologie měření je nyní velmi vyspělý a často se používá v průmyslu nanášení povlaků roll-to-roll k detekci tloušťky různých filmů, jako je hliníková fólie a obalová fólie. Není to jen film, pokud je to materiál, který může propouštět světlo. Kvalitu produktu lze monitorovat sledováním propustnosti světla prostřednictvím přesného měření a kontrolního systému pro měření tloušťky tenkého filmu. Testovací body tohoto online systému měření tloušťky tenkovrstvého povlaku lze přizpůsobit.
Přesný spektrální měřicí a kontrolní měřič tloušťky povlaku tenkého filmu je přístroj pro fotoelektrickou analýzu v blízké infračervené oblasti, který používá pevnou vlnovou délku pro blízké infračervené záření k testování obsahu vody v různých produktech. Jedná se o integrovaný nástroj. V přístroji jsou umístěny všechny komponenty potřebné pro nepřetržité monitorování. Současné testování dvou složek (např. tloušťky povlaku lepidel na vodní a olejové bázi).
Pracovní princip přesného měření spektra a kontroly tloušťkoměru tenké vrstvy
OH vazby molekul vody absorbují blízké infračervené záření na několika specifických vlnových délkách. Měření a kontrola spektra Tři filtry na rotační filtrační desce v přesném spektrálním měřicím a kontrolním testeru produkují tyto absorpční vlnové délky a neabsorpční vlnové délky, které se střídavě odrážejí od povrchu produktu k vnitřním optickým součástem a elektronické impulsy jsou převedeny z optických signály procházejí poměrem Algoritmus vypočítává proporcionální obsah vlhkosti, který je pak korigován na offset a rozpětí na přímý obsah vlhkosti. Speciálně navržený algoritmus odrazového signálu filtru eliminuje odchylky způsobené stárnutím optických součástí a různými charakteristikami odrazu materiálu.
Měření tloušťky tenké vrstvy Jingpu pro měření a kontrolu má výhody vysoké přesnosti měření, pohodlného ovládání a vysoké rychlosti měření. Jeho automatický detekční systém může výrazně zlepšit kvalitu a efektivitu výroby nátěrových produktů. Automatizovaný proces měření ukládá výsledky měření ve formě dat, což přispívá ke kontrole kvality produktu, optimalizuje parametry nátěrového produktu, snižuje množství odpadu a šetří výrobní náklady. . Je to nezbytný online testovací nástroj pro výrobce.
