Pulzní skupinové potlačení spínaného zdroje
Spínaný zdroj lze použít jako samostatné elektronické zařízení, ale častěji se spínaný zdroj používá jako součást každého elektronického zařízení. Proto má spínaný zdroj svá specifika a elektromagnetická kompatibilita spínaného zdroje souvisí s běžným používáním každého elektronického zařízení. Z tohoto důvodu závisí EMC výkon elektronického zařízení nejprve na EMC výkonu spínaného zdroje.
① Potlačení skupiny pulzů spínaného zdroje.
Co se týká spínaného zdroje, bez ohledu na vstupní filtr spínaného zdroje, vypínač
Vliv potlačení samotného napájecího obvodu na nárazové rušení je opravdu velmi nízký. Hlavním důvodem je to, že podstatou pulzního rušení je vysokofrekvenční rušení v běžném režimu a filtrační kondenzátory v spínaném napájecím obvodu jsou všechny nastaveny tak, aby potlačovaly nízkofrekvenční diferenciální rušení. Elektrolytické kondenzátory nestačí potlačit samotné zvlnění spínaného zdroje, natož pulzní rušení harmonických složek nad 60MHz. Proto při pozorování křivek pulzního shluku na vstupu a výstupu spínaného zdroje osciloskopem není patrný žádný účinek.
Vzhledem k tomu, že shlukové rušení je rušení v běžném režimu.
Pokud jde o spínaný zdroj, přijetí vstupního filtru je prvním důležitým opatřením k potlačení rušení skupiny pulzů, které spínaný zdroj způsobuje.
Za druhé, návrh vysokofrekvenčního transformátoru ve spínaném napájecím vedení, zejména přijetí opatření stínění, má určitý inhibiční účinek na rušení pulzní skupiny.
Kromě toho může můstkový kondenzátor mezi primárním okruhem a sekundárním okruhem spínaného zdroje poskytnout cestu pro rušení shodného režimu, které vstupuje do sekundárního okruhu z primárního okruhu, aby se vrátilo do primárního okruhu, což je správné.
Má také určitý inhibiční účinek na interferenci pulzních skupin.
Určitou roli při potlačení shlukového rušení může také hrát přidání běžného filtračního obvodu (souběžná tlumivka a souběžný kondenzátor) na výstup spínaného zdroje.
Kromě toho samotný obvod spínaného zdroje nemá žádný inhibiční účinek na nárazové rušení, ale pokud uspořádání obvodu spínaného zdroje není dobré, zhorší to pronikání nárazového rušení do spínaného zdroje. Zejména podstatou burstového rušení je kombinace rušení vedením a zářením. I když je vodivá interferenční složka potlačena díky použití vstupního filtru, radiační rušení kolem přenosového vedení stále existuje a stále je možné indukovat radiační složku v pulzním rušení prostřednictvím uspořádání spínaného zdroje ( Uspořádání primárního nebo sekundárního obvodu spínaného zdroje je příliš otevřené a tvoří "velkou smyčkovou anténu"), což ovlivňuje výkon celého zařízení proti rušení.
(2) Co se týká potlačení pulzního pulzu spínaného zdroje, čemu je třeba věnovat pozornost při pulzním pulzním testu napájení zařízení.
Když se provádí test rušení pulsní skupiny na straně napájení elektronických zařízení, určitě
Pozornost by měla být věnována odrušovacímu výkonu napájecího zdroje zařízení, ale neměli bychom zapomínat na skutečnost, že podstatou nárazového rušení je kombinace rušení vedením a zářením. Proto, když napájecí část po přijetí adekvátních opatření stále neprojde tímto testem, měli bychom se vžít do situace někoho jiného a zamyslet se nad tím, zda se rušení nedostane do zařízení jinými prostředky, což způsobí falešný obraz, že napájecí vedení praskne odolnost test zařízení je nekvalifikovaný.
Například, když provádíme test odolnosti skupiny impulsů elektrického vedení, jsme ve skutečnosti v elektřině
V prostoru kolem zdrojového vedení je vysokofrekvenčně vyzařované elektromagnetické pole o určité intenzitě. Pokud má zařízení kromě elektrického vedení další komunikační a vstupní/výstupní přípojky, je stále možné akceptovat indukci vysokofrekvenčního elektromagnetického pole prostřednictvím pasivní anténní funkce těchto vedení a zavést jej do zařízení. Kromě toho, když je vnitřní kabeláž zařízení příliš blízko krytu; Zařízení má nekovové pouzdro; Nebo není dobrá elektromagnetická těsnost krytu v blízkosti elektroinstalace, je také možné indukovat vysokofrekvenční záření elektromagnetické pole generované rušením pulzní skupiny, což má za následek nekvalifikovaný test odolnosti zařízení.
